賽可研究分析用X-RayCT檢測(cè)設(shè)備X.eyeSF160系列
賽可研究分析用X-Ray CT檢測(cè)設(shè)備X-eye SF160系列概述
強(qiáng)調(diào)樶高性能的 X射線設(shè)備
具備高性能160kV級(jí)微焦管，能將樶小微米單位(1?)的缺陷檢測(cè)出來(lái)的檢查設(shè)備。
以配備高價(jià)的Open Tube，世界上樶高的倍率獲得高分辨率X射線圖像。
如需經(jīng)過(guò)隨時(shí)增加Dual CT功能，檢測(cè)出殘貨位置與大小可以去分析
賽可研究分析用X-Ray CT檢測(cè)設(shè)備X-eye SF160系列特點(diǎn)
★ 為檢測(cè)半導(dǎo)體SMT及電子/電池零件，非破壞
★ 具備 Micro-Open Tube， 可用半涌久
★ 以Dual CT功能體現(xiàn)樶高的CT形象/提供高速
